來(lái)源:中考網(wǎng)整理 作者:中考網(wǎng)編輯 2016-11-24 15:13:44
函數
易錯點(diǎn)1:各個(gè)待定系數表示的的意義。
易錯點(diǎn)2:熟練掌握各種函數解析式的求法,有幾個(gè)的待定系數就要幾個(gè)點(diǎn)值。
易錯點(diǎn)3:利用圖像求不等式的解集和方程(組)的解,利用圖像性質(zhì)確定增減性。
易錯點(diǎn)4:兩個(gè)變量利用函數模型解實(shí)際問(wèn)題,注意區別方程、函數、不等式模型解決不等領(lǐng)域的問(wèn)題。
易錯點(diǎn)5:利用函數圖象進(jìn)行分類(lèi)(平行四邊形、相似、直角三角形、等腰三角形)以及分類(lèi)的求解方法。
易錯點(diǎn)6:與坐標軸交點(diǎn)坐標一定要會(huì )求。面積最大值的求解方法,距離之和的最小值的求解方法,距離之差最大值的求解方法。
易錯點(diǎn)7:數形結合思想方法的運用,還應注意結合圖像性質(zhì)解題。函數圖象與圖形結合學(xué)會(huì )從復雜圖形分解為簡(jiǎn)單圖形的方法,圖形為圖像提供數據或者圖像為圖形提供數據。
易錯點(diǎn)8:自變量的取值范圍有:二次根式的被開(kāi)方數是非負數,分式的分母不為0,0指數底數不為0,其它都是全體實(shí)數。
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